自動(dòng)平衡技術(shù)電橋，4端對(duì)開(kāi)爾文測(cè)試端

可選配內(nèi)部±40V偏置電壓源

簡(jiǎn)體中文、英文操作語(yǔ)言

分檔測(cè)量、列表掃描、繪圖掃描、開(kāi)路、短路、負(fù)載校正等等功能

繪圖掃描無(wú)繼電器跳動(dòng)噪聲及等待延時(shí)

配備電導(dǎo)率o·介電常數(shù)E的運(yùn)算功能

進(jìn)行測(cè)試數(shù)據(jù)、測(cè)試條件保存（U盤(pán)或內(nèi)部）

繪圖掃描圖像直接拷屏到U盤(pán)功能

加強(qiáng)的測(cè)試端保護(hù)功能

USB、GPIB、RS232、LAN等上位機(jī)連接接口

自動(dòng)平衡電橋技術(shù)

以往低端簡(jiǎn)化的運(yùn)放阻抗測(cè)量電路如下圖：

以上電路在實(shí)際運(yùn)作時(shí)，隨著頻率的升高，虛地點(diǎn)會(huì)越來(lái)越不理想，導(dǎo)致流過(guò)被測(cè)件DUT的電流信號(hào)不能全部進(jìn)入IV轉(zhuǎn)換標(biāo)準(zhǔn)電阻Rr，所以會(huì)造成測(cè)量誤差越來(lái)越大。

而ZX8210使用的自動(dòng)平衡電橋測(cè)試原理，把上圖簡(jiǎn)易的測(cè)量運(yùn)放改進(jìn)成：Lot檢零電路，0度90度數(shù)字檢相及調(diào)制解調(diào)電路，

Lcur高頻驅(qū)動(dòng)電路等等組成的矢量負(fù)反饋網(wǎng)絡(luò)。從而保證了測(cè)量電路的虛地端更接近理想。下面2圖是簡(jiǎn)易運(yùn)放阻抗測(cè)量電路以及自動(dòng)平衡電橋阻抗測(cè)量電路Lcur（虛地點(diǎn)）的波形實(shí)測(cè)對(duì)比：

使用簡(jiǎn)易運(yùn)放阻抗測(cè)量電路1MHz測(cè)量6.8nFLcur（虛地點(diǎn)）實(shí)測(cè)波形如下：

使用簡(jiǎn)易運(yùn)放阻抗測(cè)量電路1MHz測(cè)量6.8nFLcur

（虛地點(diǎn)）實(shí)測(cè)波形

使用自動(dòng)平衡電橋阻抗測(cè)量電路1MHz測(cè)量6.8nFLcur

（虛地點(diǎn)）實(shí)測(cè)波形

以上可見(jiàn)，使用簡(jiǎn)易運(yùn)放阻抗測(cè)量電路虛地端電壓峰峰值高達(dá)59mV，而使用自動(dòng)平衡電橋原理的虛地端電壓峰峰值僅為2mV，所以：使用自動(dòng)平衡電橋的虛地性能遠(yuǎn)遠(yuǎn)好于使用一個(gè)簡(jiǎn)易運(yùn)放做測(cè)量的電路。

主要測(cè)量頁(yè)面

加強(qiáng)的測(cè)試端保護(hù)功能

一般高頻的阻抗分析儀為了保證其測(cè)試端電平的幅度一致性，其測(cè)試端非常容易被靜電或被測(cè)件殘留電荷沖壞，而這些進(jìn)口儀器是非常昂貴的。

為了防止將被充電電容錯(cuò)誤的連接到測(cè)量端口，ZX8210優(yōu)化和強(qiáng)化從電容的放電電壓中保護(hù)內(nèi)部電路的殘留電荷保護(hù)功能。

配備多種接

基本測(cè)量精度

與國(guó)際業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試效果對(duì)比

ZX8210測(cè)量變壓器自諧振頻率SRF：1.19750MHz

ZX8210測(cè)量變壓器自諧振頻率SRF：1.19750MHz

ZX8210-5M：20Hz-5MHz阻抗分析儀+LCR表

ZX8210-10M：20Hz-10MHz阻抗分析儀+LCR表

ZX8210-15M：20Hz-15MHz阻抗分析儀+LCR表

ZX8210-20M：20Hz-20MHz阻抗分析儀+LCR表

ZX8210-25M：20Hz-25MHz阻抗分析儀+LCR表

ZX8210-30M：20Hz-30MHz阻抗分析儀+LCR表

ZX8210H-1M: LCR Meter, 20Hz~1MHz,40V bias voltage sources

ZX8210H-2M: LCR Meter, 20Hz~2MHz,40V bias voltage sources